电源芯片测试系统如何完成欠压关断/欠压关断滞后？
电源芯片欠压关断测试原理：
在测试芯片的欠压关断过程中我们会测试到芯片的启动电压和欠压关断滞后电压，所以这三个指标可以一起进行测量;而测试这些指标我们需要一台电源和数字万用表。
电源芯片欠压关断的测试需要将电源的接入芯片进行供电，再将万用表接入芯片的输出端测量输出电压；测试过程中需要不断调整电源的电压，将输入电压从0缓慢递增，直到万用表的读数为跳变为芯片额定输出电压为止，此时的电源的电压即为启动电压；再将电源的电压缓慢递减，直到万用表的上的电压消失，此时电源的电压为欠压关断电压；两次电压相减所得的差值，即为欠压关断滞后电压。
综合上述的原理我们就可以轻松的使用ATECLOUD对电源芯片进行自动测试：
完成硬件仪器连接之后，登陆ATECLOUD测试账号，直接在系统中运行测试方案即可自动控制仪器进行项目测试以及参数配置，例如此次欠压关断的测试，我们可以提前在系统中配置5个电源电压值，系统会自动依次将电源电压设置到方案中，这样我们就可以快速的采集到不同输入电压下的输出电压值，5-10秒内即可读取到测试指标和截图，效率是传统方式的5倍有余。
同时系统也支持不同项目的搭配测试，可自由选择测试的项目数量指标等；而且可以在数据报告界面实时查看任意指标的参数，根据用户需求导出不同类型的数据报表，报告内包含测试结果、波形截图、测试条件等众多测试指标。
此外ATECLOUD的数据洞察功能可以将所有项目中采集到的数据进行集中分析，从效率曲线、产品特性、短路恢复曲线等多个维度综合展示分析图表，方便企业及时了解产品详情，为精进研发工艺提供数据支持。