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Sigrity System Explorer Snip Via Pattern From Layout模式从其它设计中截取过孔模型和仿真分析操作指导

article 2024/12/21 12:22:00

Sigrity System Explorer Snip Via Pattern From Layout模式从其它设计中截取过孔模型和仿真分析操作指导

Sigrity System Explorer Snip Via Pattern From Layout模式支持从其它设计中截取过孔模型用于仿真分析，同样以差分模板为例

具体操作如下

  1. 双击打开System Explorer软件

  1. 界面打开如下

http://www.kler.cn/a/445051.html

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