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边沿检测电路漏检原因分析

article 2025/1/6 3:54:11

边沿检测电路漏检原因分析

常用结构如下：

module edge_detect1(
input	clk,
input	signal,
output	pe,		//上升沿
output	ne,		//下降沿
output	de		//双边沿
);

reg reg1;

always@(posedge clk) begin
	reg1	<= signal;
end

assign pe	= (~reg1) & signal;
assign ne	= reg1 & (~signal);
assign de	= pe | ne; // 或 reg1 ^ signal

endmodule

对应的电路结构如下
在这里插入图片描述

该结构的边沿检测模块，仅使用到1个寄存器，其边沿输出通过信号 signal 与前一时刻的 signal 做逻辑运算得到，正因此，其一旦signal信号发生变动，其边沿信号也会随之改变，其优点是边沿信号响应迅速，而缺点是边沿信号高电平时间小于一个 clk 周期，因此容易出现漏检。尤其是当信号和时钟边沿很接近时，会出现高电平的时间非常短，从而出现误判

改进方法1：加入寄存器，2级缓存

module edge_detect3(
input	clk,
input	signal,
output	pe,		//上升沿
output	ne,		//下降沿
output	de		//双边沿
);

reg reg1,reg_2;

always@(posedge clk) begin
	reg1	<= signal;
	reg2	<= reg1;
end

assign pe	= reg1 & (~reg2);
assign ne	= (~reg1) & reg2;
assign de	= reg1 ^ reg2;

endmodule